高通量微区电/磁性能表征技术
高琛
中国科学技术大学
摘要
功能材料的高通量研究离不开高通量微区电/磁性能表征技术。本报告以近场微波显微术、磁光成像术以及同步辐射微区RSM为代表,结合多铁性材料、磁存储材料、铁电材料的研究,探讨高通量表征技术在材料基因计划中的重要作用。
DOI: 10.12110/firstfmge.20171121.206
84年毕业于中国科学技术大学物理系,90年中国科学技术大学获博士学位后留校。92-93在法国CNRS电磁光学实验室,95-99年在美国Lawrence Berkeley国家实验室项晓东课题组访问研究,99年由中科院“百人计划”招聘回国,01年获国家杰出青年科学基金,04年入选新世纪百千万人才工程国家级人选。现任:中国科学技术大学国家同步辐射实验室研究员、博导,材料系、物理系兼职教授。曾任:国家同步辐射实验室副主任,中国科学技术大学学术委员会委员,国家同步辐射实验室学术委员会主任、首席科学家,上海光源软X射线谱学实验站用户工作组组长。高琛博士长期从事新型功能材料的研究,留美期间发展了一系列组合材料学方法,并开创了定量近场微波显微术。回国后致力于将同步辐射用于发光材料、铁电材料、多铁性材料等的组合筛选,发展了同步辐射在新型功能材料研究中的应用。